光时域反射仪SLD-WL1007

产品描述

利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等

规格参数

1310/1550nm 35/34dB OTDR，含红光源测试功能，光源和光功率，智能光链路拓扑分析仪、0.6m事件盲区，3cm的采样分辨率和动态范围完美结合，事件盲区 ≤0.6m.衰减盲区 ≤3.5m，衰耗分辨率 0.001dB，线性度 ±0.03 dB/dB，测量时间实时5s-180s;可选配400倍光纤端面显微镜，支持FC,SC,LC,ST等各种光纤接口。

符合IEC 68-2-6；IEC 61326-1；EN61010-1；EN60825-1标准