涂镀层测厚仪【订货号:SLD-JX820、SLD-JX821】
产品描述:能进行涂、镀层的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。
功能特点
● 中文菜单界面操作,简单方便;
● 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
● 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B);
● 设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
● 多种校准方式:仪器基本校零,并可用五试片校准对仪器的系统误差进行修正;
● 具有存储功能:可存储4类工件,每类工件26组,每组15个测量值,共1560个测量值;
● 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行下次测量;
● 设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
● 操作过程有蜂鸣声提示;
● 有高亮LED背光显示,方便在光线灰暗环境使用;
● 设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式。
技术参数
订货号 | SLD-JX820 | SLD-JX821 |
测厚方法 | 磁性;可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等) | 涡流测厚方法;可测量非磁性金属基体(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等) |
测头类型 | Fe | NFe; |
工作原理 | 磁感应 | 电涡流 |
测量范围 | 0-1250um; | |
低限分辨率 | 0.1μm; | |
示值误差 | 一点校准:±(3%H+1)二点校准:±[(1~3%)H+1] H为被测物实际厚度; | |
统计功能 | 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV); | |
工作方式 | 直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl); | |
测量方式 | 连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE); | |
存储 | 1560个测量值; | |
屏显 | 黑白; | |
测试条件 | 最小曲率半径mm,凸1.5、凹9;最小面积直径mm,Φ7;基本临界厚度mm,0.5; | |
工作环境 | 温度,0~40℃;湿度,20%~90%; | |
电源 | 2*1.5V; | |
外形尺寸 | 163*78*33; | |
重量 | 200g; | |
外壳材质 | 塑料外壳 | |
标准配置 | 主机、标准试片、基体、2节5号电池,文件资料,仪器箱;(可选配:基体、试片、皮套) |